| 热(rè)門(mén)搜索: 压敏電(diàn)阻 热(rè)敏電(diàn)阻 温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器 |
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,型号(hào)豐富
压敏電(diàn)压U1mA
压敏電(diàn)阻的(de)線(xiàn)性(xìng)向(xiàng)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)轉(zhuǎn)變(biàn)的(de)電(diàn)压轉(zhuǎn)變(biàn)时(shí),位(wèi)于非(fēi)線(xiàn)性(xìng)的(de)起(qǐ)點(diǎn)電(diàn)压正(zhèng)好在(zài)I-V曲(qū)線(xiàn)的(de)的(de)拐點(diǎn)上(shàng),該電(diàn)压确定(dìng)为(wèi)元(yuán)件(jiàn)的(de)启動(dòng)電(diàn)压,也(yě)稱为(wèi)压敏電(diàn)压,是(shì)由阻性(xìng)電(diàn)流測試而(ér)得的(de)。由于I-V曲(qū)線(xiàn)的(de)轉(zhuǎn)變(biàn)點(diǎn)清(qīng)晰度(dù)不(bù)明(míng)顯,多數情(qíng)況下(xià)是(shì)在(zài)通(tòng)1mA電(diàn)流时(shí)測量(liàng)的(de),用(yòng)U1mA来(lái)表(biǎo)示。对(duì)于一(yī)定(dìng)尺(chǐ)寸(cùn)規格的(de)ZnO压敏電(diàn)阻片(piàn),可(kě)通(tòng)过(guò)調节(jié)配方(fāng)和(hé)元(yuán)件(jiàn)的(de)幾(jǐ)何尺(chǐ)寸(cùn)来(lái)改變(biàn)其(qí)压敏電(diàn)压。亦有(yǒu)使用(yòng)10mA電(diàn)流測定(dìng)的(de)電(diàn)压作(zuò)为(wèi)压敏電(diàn)压者(zhě),以及(jí)使用(yòng)标(biāo)稱電(diàn)流測試者(zhě),标(biāo)稱電(diàn)压定(dìng)義为(wèi)0.5mA/cm2,電(diàn)流密度(dù)測定(dìng)的(de)電(diàn)场(chǎng)強(qiáng)度(dù)E0.5表(biǎo)示,对(duì)于大(dà)多數压敏電(diàn)阻器而(ér)言,这(zhè)个(gè)值更(gèng)接近(jìn)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)的(de)起(qǐ)始點(diǎn)。3. 漏電(diàn)流IL压敏電(diàn)阻器進(jìn)入(rù)击穿區(qū)之(zhī)前(qián)在(zài)正(zhèng)常工作(zuò)電(diàn)压下(xià)所(suǒ)流过(guò)的(de)電(diàn)流,稱为(wèi)漏電(diàn)流IL。漏電(diàn)流主要(yào)由三部(bù)分(fēn)貢獻:元(yuán)件(jiàn)的(de)容性(xìng)電(diàn)流,元(yuán)件(jiàn)的(de)表(biǎo)面(miàn)态電(diàn)流和(hé)元(yuán)件(jiàn)晶界電(diàn)流。一(yī)般对(duì)漏電(diàn)流的(de)測量(liàng)是(shì)将0.83倍U1mA的(de)電(diàn)压加于压敏電(diàn)阻器两(liǎng)端,此(cǐ)时(shí)流过(guò)元(yuán)件(jiàn)的(de)電(diàn)流即为(wèi)漏電(diàn)流。根(gēn)據(jù)压敏電(diàn)阻器在(zài)预击穿區(qū)的(de)導電(diàn)機(jī)理(lǐ),漏電(diàn)流的(de)大(dà)小明(míng)顯地(dì)受到(dào)环(huán)境温(wēn)度(dù)的(de)影響。當环(huán)境温(wēn)度(dù)較高时(shí),漏電(diàn)流較大(dà);反(fǎn)之(zhī),漏電(diàn)流較小。可(kě)以通(tòng)过(guò)配方(fāng)的(de)調整及(jí)制造工藝的(de)改善来(lái)減小压敏電(diàn)阻器的(de)漏電(diàn)流。研究低(dī)压元(yuán)件(jiàn)的(de)漏電(diàn)流来(lái)源是(shì)很重(zhòng)要(yào)的(de),为(wèi)了(le)促進(jìn)ZnO晶粒(lì)的(de)长(cháng)大(dà),低(dī)压元(yuán)件(jiàn)中(zhōng)通(tòng)常会添加大(dà)量(liàng)的(de)TiO2,过(guò)量(liàng)摻雜造成(chéng)压敏元(yuán)件(jiàn)漏電(diàn)流增大(dà)[6]~[9],在(zài)元(yuán)件(jiàn)性(xìng)能(néng)測試时(shí)容易引入(rù)假象(xiàng),例如(rú)压敏電(diàn)压和(hé)启動(dòng)電(diàn)压偏離較大(dà)。測試元(yuán)件(jiàn)的(de)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)时(shí),我们(men)希望漏電(diàn)流以通(tòng)过(guò)晶界的(de)電(diàn)流为(wèi)主。但低(dī)压元(yuán)件(jiàn)普遍(biàn)存在(zài)吸潮(cháo)現(xiàn)象(xiàng),初燒成(chéng)的(de)低(dī)压元(yuán)件(jiàn)漏電(diàn)流可(kě)以保持(chí)在(zài)4~20μA內(nèi),放(fàng)置8~24h後(hòu),元(yuán)件(jiàn)的(de)漏電(diàn)流可(kě)以增大(dà)到(dào)200μA。这(zhè)樣(yàng)的(de)元(yuán)件(jiàn)的(de)晶界非(fēi)線(xiàn)性(xìng)並(bìng)沒(méi)有(yǒu)被(bèi)破壞,但卻表(biǎo)現(xiàn)出(chū)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)低(dī),压敏電(diàn)压也(yě)稍有(yǒu)降低(dī)的(de)表(biǎo)象(xiàng)。

由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,篇(piān)幅有(yǒu)限,恕不(bù)一(yī)一(yī)呈現(xiàn),欲知詳请,歡迎撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!






压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,更(gèng)專業
低(dī)压ZnO压敏電(diàn)阻的(de)特(tè)性(xìng)與(yǔ)晶界的(de)结構狀态有(yǒu)密切(qiè)關(guān)系(xì),關(guān)于压敏電(diàn)阻的(de)顯微结構,人(rén)们(men)也(yě)以Bi系(xì)ZnO压敏電(diàn)阻为(wèi)基礎,建立了(le)不(bù)同(tóng)的(de)模型進(jìn)行研究,如(rú)微電(diàn)阻模型,即将压敏電(diàn)阻等效为(wèi)包(bāo)含在(zài)多晶材料中(zhōng)的(de)分(fēn)立的(de)晶界,還(huán)有(yǒu)運用(yòng)薄膜技術(shù)制造的(de)單结等来(lái)模拟ZnO
压敏陶瓷的(de)顯微结構材料中(zhōng)主要(yào)的(de)相是(shì)半導化(huà)的(de)ZnO晶粒(lì),許多ZnO晶粒(lì)直(zhí)接接触,晶粒(lì)間(jiān)沒(méi)有(yǒu)其(qí)它(tā)相,形成(chéng)了(le)双(shuāng)ZnO-ZnO晶界(同(tóng)質(zhì)结)。由于Bi等大(dà)尺(chǐ)寸(cùn)離子在(zài)晶界偏析,改變(biàn)了(le)晶界的(de)结構,電(diàn)流通(tòng)过(guò)这(zhè)些晶界,这(zhè)些晶界稱为(wèi)電(diàn)活性(xìng)晶界,電(diàn)活性(xìng)晶界是(shì)決定(dìng)压敏電(diàn)阻性(xìng)質(zhì)的(de)關(guān)键。在(zài)三个(gè)晶粒(lì)的(de)交界處(chù),有(yǒu)时(shí)在(zài)两(liǎng)个(gè)晶粒(lì)(可(kě)能(néng)有(yǒu)特(tè)殊取(qǔ)向(xiàng))之(zhī)間(jiān),存在(zài)粒(lì)間(jiān)相,粒(lì)間(jiān)相在(zài)導電(diàn)过(guò)程中(zhōng)大(dà)多是(shì)電(diàn)學(xué)非(fēi)活性(xìng)的(de)。該相主要(yào)包(bāo)括各(gè)種(zhǒng)添加物(wù)形成(chéng)的(de)化(huà)合物(wù)。陶瓷材料中(zhōng)的(de)所(suǒ)有(yǒu)成(chéng)分(fēn)都可(kě)以溶解(jiě)在(zài)粒(lì)間(jiān)相中(zhōng),在(zài)燒结过(guò)程中(zhōng),晶粒(lì)交界處(chù)可(kě)能(néng)形成(chéng)尖晶石(dàn)晶體(tǐ),但是(shì)它(tā)们(men)不(bù)參與(yǔ)導電(diàn)过(guò)程。氧化(huà)物(wù)的(de)改性(xìng)添加可(kě)以改變(biàn)晶粒(lì)電(diàn)導或(huò)晶界的(de)结構及(jí)化(huà)學(xué)狀态,尤其(qí)是(shì)偏析于晶
界的(de)雜質(zhì)对(duì)晶界活性(xìng)有(yǒu)很大(dà)的(de)影響,因而(ér)适當的(de)摻雜選择对(duì)形成(chéng)和(hé)改善非(fēi)線(xiàn)性(xìng)起(qǐ)着很重(zhòng)要(yào)的(de)作(zuò)用(yòng),而(ér)且(qiě)晶界勢壘是(shì)ZnO压敏陶瓷燒结时(shí)在(zài)高温(wēn)冷(lěng)卻过(guò)程中(zhōng)形成(chéng)的(de),燒结工藝直(zhí)接影響雜質(zhì)缺陷在(zài)晶界中(zhōng)的(de)分(fēn)布(bù),從而(ér)影響晶界化(huà)學(xué)结構。另(lìng)外(wài),低(dī)压ZnO压敏電(diàn)阻的(de)晶粒(lì)尺(chǐ)寸(cùn)要(yào)足夠大(dà),單位(wèi)厚度(dù)的(de)晶界數少(shǎo),因此(cǐ)低(dī)压压敏電(diàn)阻对(duì)顯微结構的(de)波(bō)動(dòng)尤其(qí)敏感(gǎn),工藝对(duì)低(dī)压压敏電(diàn)阻压敏特(tè)性(xìng)的(de)作(zuò)用(yòng)也(yě)不(bù)可(kě)忽視。

源林(lín)電(diàn)子压敏電(diàn)阻免費取(qǔ)樣(yàng),一(yī)个(gè)電(diàn)話(huà)搞定(dìng)!
您好,歡迎莅臨源林(lín)電(diàn)子,歡迎咨詢...
![]() 触屏版二(èr)維碼 |