| 热(rè)門(mén)搜索: 压敏電(diàn)阻 热(rè)敏電(diàn)阻 温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器 |
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,廠(chǎng)家直(zhí)銷
ZnO晶相位(wèi)于晶粒(lì)體(tǐ)內(nèi),为(wèi)低(dī)電(diàn)阻率的(de)半導體(tǐ),对(duì)大(dà)電(diàn)流特(tè)性(xìng)有(yǒu)決定(dìng)性(xìng)作(zuò)用(yòng)。ZnO半導化(huà)的(de)原因主要(yào)是(shì)氧不(bù)足導致(zhì)的(de)非(fēi)化(huà)學(xué)計(jì)量(liàng)比和(hé)施主摻雜,有(yǒu)大(dà)量(liàng)的(de)導電(diàn)電(diàn)子存在(zài),为(wèi)n型半導體(tǐ)。富铋相,约在(zài)750℃形成(chéng)12/14 Bi2O3
·Cr2O3 ,温(wēn)度(dù)低(dī)于850℃參與(yǔ)形成(chéng)焦綠(lǜ)石(dàn)相,超过(guò)850℃後(hòu)從焦綠(lǜ)石(dàn)相中(zhōng)分(fēn)離出(chū)来(lái),生(shēng)成(chéng)含
Cr的(de)富铋相,含有(yǒu)尖晶石(dàn)相和(hé)Zn,随着温(wēn)度(dù)的(de)升(shēng)高,Cr逐步移到(dào)尖晶石(dàn)相中(zhōng)。
Cr有(yǒu)穩定(dìng)尖晶石(dàn)相的(de)作(zuò)用(yòng),高温(wēn)冷(lěng)卻时(shí),可(kě)以阻止生(shēng)成(chéng)焦綠(lǜ)石(dàn)相。 焦綠(lǜ)石(dàn)相700-900℃时(shí)形成(chéng),850℃时(shí)达(dá)到(dào)峰(fēng)值,约950℃时(shí)消失,
反(fǎn)應(yìng)式如(rú)下(xià)
2Zn2Bi3Sb3O 14+ 17ZnO ——3Zn7Sb2O 12+ 3Bi2O3

由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,篇(piān)幅有(yǒu)限,恕不(bù)一(yī)一(yī)呈現(xiàn),欲知詳请,歡迎撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!






压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,更(gèng)專業
當过(guò)電(diàn)压幅值高于規定(dìng)電(diàn)流下(xià)的(de)電(diàn)压,过(guò)電(diàn)流幅值小于压敏電(diàn)阻器的(de)頂峰(fēng)值電(diàn)流时(shí)(若無压敏電(diàn)阻器足以使設備元(yuán)器件(jiàn)破壞),压敏電(diàn)阻器處(chù)于击穿區(qū),压敏電(diàn)阻器将过(guò)電(diàn)压限制在(zài)較低(dī)的(de)水(shuǐ)平上(shàng)(小于設備的(de)耐压水(shuǐ)平),同(tóng)时(shí)通(tòng)过(guò)压敏電(diàn)阻器的(de)沖击電(diàn)流很大(dà),使压敏電(diàn)阻器性(xìng)能(néng)劣化(huà)即将失效,这(zhè)时(shí)通(tòng)过(guò)熔斷器的(de)電(diàn)流很大(dà),熔斷器斷開(kāi),这(zhè)樣(yàng)既可(kě)使電(diàn)器設備、元(yuán)器件(jiàn)免受过(guò)電(diàn)压沖击,也(yě)可(kě)避免由于压敏電(diàn)阻器的(de)劣化(huà)击穿造成(chéng)線(xiàn)路(lù)L-N、L-PE之(zhī)間(jiān)短(duǎn)路(lù)

源林(lín)電(diàn)子是(shì)一(yī)家專業研發(fà)、生(shēng)産压敏電(diàn)阻的(de)高科技電(diàn)子元(yuán)器件(jiàn)企業。主營压敏電(diàn)阻、热(rè)敏電(diàn)阻和(hé)温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器,自(zì)有(yǒu)研發(fà)团(tuán)隊,廠(chǎng)家直(zhí)銷!
您好,歡迎莅臨源林(lín)電(diàn)子,歡迎咨詢...
![]() 触屏版二(èr)維碼 |