| 热(rè)門(mén)搜索: 压敏電(diàn)阻 热(rè)敏電(diàn)阻 温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器 |
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,自(zì)有(yǒu)工廠(chǎng)
氧化(huà)鋅压敏電(diàn)阻在(zài)直(zhí)流電(diàn)压作(zuò)用(yòng)下(xià)的(de)老(lǎo)化(huà):
在(zài)直(zhí)流電(diàn)压的(de)作(zuò)用(yòng)下(xià),氧化(huà)鋅压敏電(diàn)阻的(de)U-I曲(qū)線(xiàn)發(fà)生(shēng)不(bù)对(duì)稱變(biàn)化(huà),即在(zài)施加電(diàn)压一(yī)段(duàn)时(shí)間(jiān)後(hòu),試验(yàn)时(shí)施加的(de)電(diàn)压梯(tī)度(dù)为(wèi)95V/mm,温(wēn)度(dù)为(wèi)70℃。加压後(hòu)在(zài)測量(liàng)压敏電(diàn)阻的(de)U-I特(tè)性(xìng)表(biǎo)明(míng),在(zài)同(tóng)樣(yàng)的(de)電(diàn)压下(xià),流过(guò)压敏電(diàn)阻的(de)電(diàn)流将增加。
不(bù)对(duì)稱變(biàn)化(huà)表(biǎo)現(xiàn)在(zài):和(hé)老(lǎo)化(huà)試验(yàn)電(diàn)压极(jí)性(xìng)相反(fǎn)的(de)伏安(ān)特(tè)性(xìng)的(de)變(biàn)化(huà)比极(jí)性(xìng)一(yī)致(zhì)的(de)正(zhèng)方(fāng)向(xiàng)特(tè)性(xìng)右(yòu)的(de)變(biàn)化(huà)要(yào)大(dà)。随所(suǒ)施加電(diàn)压和(hé)加压时(shí)間(jiān)的(de)增加,U-I 特(tè)性(xìng)曲(qū)線(xiàn)的(de)改變(biàn)程度(dù)也(yě)加大(dà)。

由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,每个(gè)客戶的(de)个(gè)性(xìng)化(huà)需求不(bù)一(yī),想(xiǎng)了(le)解(jiě)更(gèng)多温(wēn)度(dù)傳感(gǎn)器的(de)信(xìn)息,请撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,品類(lèi)豐富
ZnO是(shì)六(liù)方(fāng)晶系(xì)纖鋅矿结構,其(qí)化(huà)學(xué)键處(chù)于離子键與(yǔ)共(gòng)價键的(de)中(zhōng)間(jiān)键型狀态,氧離子以六(liù)方(fāng)密堆(duī),鋅離子占據(jù)一(yī)半的(de)四(sì)面(miàn)體(tǐ)空(kōng)隙,鋅和(hé)氧都是(shì)四(sì)面(miàn)體(tǐ)配位(wèi)。ZnO是(shì)相对(duì)開(kāi)放(fàng)的(de)晶體(tǐ)结構,開(kāi)放(fàng)的(de)结構对(duì)缺陷的(de)性(xìng)質(zhì)及(jí)擴散(sàn)機(jī)制有(yǒu)影響,所(suǒ)有(yǒu)的(de)八(bā)面(miàn)體(tǐ)間(jiān)隙和(hé)一(yī)半的(de)四(sì)面(miàn)體(tǐ)間(jiān)隙是(shì)空(kōng)的(de),正(zhèng)負離子的(de)配位(wèi)數均为(wèi)4,所(suǒ)以容易引入(rù)外(wài)部(bù)雜質(zhì),ZnO熔點(diǎn)为(wèi)2248,密度(dù)为(wèi)5.6g/cm3,純淨的(de)ZnO晶體(tǐ),其(qí)能(néng)带(dài)由02-的(de)滿的(de)2p電(diàn)子能(néng)級和(hé)Zn2+的(de)空(kōng)的(de)4s能(néng)級組成(chéng),禁带(dài)宽(kuān)度(dù)为(wèi)3.2~3.4eV,因此(cǐ),室(shì)温(wēn)下(xià),滿足化(huà)學(xué)計(jì)量(liàng)比的(de)純淨ZnO應(yìng)是(shì)絕緣體(tǐ),而(ér)ZnO中(zhōng)常見(jiàn)的(de)缺陷是(shì)金(jīn)屬填隙原子,所(suǒ)以它(tā)是(shì)金(jīn)屬过(guò)剩(Zn1+xO)非(fēi)化(huà)學(xué)計(jì)量(liàng)比n型半導體(tǐ)。
Eda等認为(wèi),在(zài)本(běn)征缺陷中(zhōng),填隙鋅原子擴散(sàn)快,对(duì)压敏電(diàn)阻穩定(dìng)性(xìng)有(yǒu)很大(dà)影響。
由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,每个(gè)客戶的(de)个(gè)性(xìng)化(huà)需求不(bù)一(yī)。想(xiǎng)了(le)解(jiě)更(gèng)多压敏電(diàn)阻的(de)信(xìn)息,请撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!
压敏電(diàn)阻采購,就(jiù)選源林(lín)電(diàn)子,型号(hào)豐富
压敏電(diàn)压U1mA
压敏電(diàn)阻的(de)線(xiàn)性(xìng)向(xiàng)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)轉(zhuǎn)變(biàn)的(de)電(diàn)压轉(zhuǎn)變(biàn)时(shí),位(wèi)于非(fēi)線(xiàn)性(xìng)的(de)起(qǐ)點(diǎn)電(diàn)压正(zhèng)好在(zài)I-V曲(qū)線(xiàn)的(de)的(de)拐點(diǎn)上(shàng),該電(diàn)压确定(dìng)为(wèi)元(yuán)件(jiàn)的(de)启動(dòng)電(diàn)压,也(yě)稱为(wèi)压敏電(diàn)压,是(shì)由阻性(xìng)電(diàn)流測試而(ér)得的(de)。由于I-V曲(qū)線(xiàn)的(de)轉(zhuǎn)變(biàn)點(diǎn)清(qīng)晰度(dù)不(bù)明(míng)顯,多數情(qíng)況下(xià)是(shì)在(zài)通(tòng)1mA電(diàn)流时(shí)測量(liàng)的(de),用(yòng)U1mA来(lái)表(biǎo)示。对(duì)于一(yī)定(dìng)尺(chǐ)寸(cùn)規格的(de)ZnO压敏電(diàn)阻片(piàn),可(kě)通(tòng)过(guò)調节(jié)配方(fāng)和(hé)元(yuán)件(jiàn)的(de)幾(jǐ)何尺(chǐ)寸(cùn)来(lái)改變(biàn)其(qí)压敏電(diàn)压。亦有(yǒu)使用(yòng)10mA電(diàn)流測定(dìng)的(de)電(diàn)压作(zuò)为(wèi)压敏電(diàn)压者(zhě),以及(jí)使用(yòng)标(biāo)稱電(diàn)流測試者(zhě),标(biāo)稱電(diàn)压定(dìng)義为(wèi)0.5mA/cm2,電(diàn)流密度(dù)測定(dìng)的(de)電(diàn)场(chǎng)強(qiáng)度(dù)E0.5表(biǎo)示,对(duì)于大(dà)多數压敏電(diàn)阻器而(ér)言,这(zhè)个(gè)值更(gèng)接近(jìn)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)的(de)起(qǐ)始點(diǎn)。3. 漏電(diàn)流IL压敏電(diàn)阻器進(jìn)入(rù)击穿區(qū)之(zhī)前(qián)在(zài)正(zhèng)常工作(zuò)電(diàn)压下(xià)所(suǒ)流过(guò)的(de)電(diàn)流,稱为(wèi)漏電(diàn)流IL。漏電(diàn)流主要(yào)由三部(bù)分(fēn)貢獻:元(yuán)件(jiàn)的(de)容性(xìng)電(diàn)流,元(yuán)件(jiàn)的(de)表(biǎo)面(miàn)态電(diàn)流和(hé)元(yuán)件(jiàn)晶界電(diàn)流。一(yī)般对(duì)漏電(diàn)流的(de)測量(liàng)是(shì)将0.83倍U1mA的(de)電(diàn)压加于压敏電(diàn)阻器两(liǎng)端,此(cǐ)时(shí)流过(guò)元(yuán)件(jiàn)的(de)電(diàn)流即为(wèi)漏電(diàn)流。根(gēn)據(jù)压敏電(diàn)阻器在(zài)预击穿區(qū)的(de)導電(diàn)機(jī)理(lǐ),漏電(diàn)流的(de)大(dà)小明(míng)顯地(dì)受到(dào)环(huán)境温(wēn)度(dù)的(de)影響。當环(huán)境温(wēn)度(dù)較高时(shí),漏電(diàn)流較大(dà);反(fǎn)之(zhī),漏電(diàn)流較小。可(kě)以通(tòng)过(guò)配方(fāng)的(de)調整及(jí)制造工藝的(de)改善来(lái)減小压敏電(diàn)阻器的(de)漏電(diàn)流。研究低(dī)压元(yuán)件(jiàn)的(de)漏電(diàn)流来(lái)源是(shì)很重(zhòng)要(yào)的(de),为(wèi)了(le)促進(jìn)ZnO晶粒(lì)的(de)长(cháng)大(dà),低(dī)压元(yuán)件(jiàn)中(zhōng)通(tòng)常会添加大(dà)量(liàng)的(de)TiO2,过(guò)量(liàng)摻雜造成(chéng)压敏元(yuán)件(jiàn)漏電(diàn)流增大(dà)[6]~[9],在(zài)元(yuán)件(jiàn)性(xìng)能(néng)測試时(shí)容易引入(rù)假象(xiàng),例如(rú)压敏電(diàn)压和(hé)启動(dòng)電(diàn)压偏離較大(dà)。測試元(yuán)件(jiàn)的(de)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)时(shí),我们(men)希望漏電(diàn)流以通(tòng)过(guò)晶界的(de)電(diàn)流为(wèi)主。但低(dī)压元(yuán)件(jiàn)普遍(biàn)存在(zài)吸潮(cháo)現(xiàn)象(xiàng),初燒成(chéng)的(de)低(dī)压元(yuán)件(jiàn)漏電(diàn)流可(kě)以保持(chí)在(zài)4~20μA內(nèi),放(fàng)置8~24h後(hòu),元(yuán)件(jiàn)的(de)漏電(diàn)流可(kě)以增大(dà)到(dào)200μA。这(zhè)樣(yàng)的(de)元(yuán)件(jiàn)的(de)晶界非(fēi)線(xiàn)性(xìng)並(bìng)沒(méi)有(yǒu)被(bèi)破壞,但卻表(biǎo)現(xiàn)出(chū)非(fēi)線(xiàn)性(xìng)低(dī),压敏電(diàn)压也(yě)稍有(yǒu)降低(dī)的(de)表(biǎo)象(xiàng)。

由于压敏電(diàn)阻型号(hào)太多,篇(piān)幅有(yǒu)限,恕不(bù)一(yī)一(yī)呈現(xiàn),欲知詳请,歡迎撥打(dǎ)图(tú)片(piàn)中(zhōng)的(de)咨詢電(diàn)話(huà)與(yǔ)我们(men)源林(lín)電(diàn)子聯系(xì),謝謝!
您好,歡迎莅臨源林(lín)電(diàn)子,歡迎咨詢...
![]() 触屏版二(èr)維碼 |